光伏硅片缺陷检测及分选设备

设备参数

设备尺寸

9000*1200*2300mm

设备重量

2600kg

额定功率

12kw

工作电源

AC380v/220v

UPH

14000pcs/h

设备功能

适用范围:单多晶硅片尺寸157*157—230*230mm

缺陷项:厚度、线痕值、翘曲、弯曲、弧长、表面崩边、倒角崩边、脏污、色差、隐裂、穿孔、PN型、电阻率等

技术指标

漏检率<0.1%,过杀率<0.05%
碎片率<0.05%

设备优势

支持多种尺寸硅片快速换型

搭载中科迪宏自主研发的TimesAI深度学习开发平台大模型版,将工业AI大模型与检测模型结合,极大缩短模型和算法的迭代周期,快速完成设备部署,快速应对新的缺陷种类

直线下料分选机构采用基于伯努利原理的悬浮式高速硅片传输技术,大幅提升硅片分选速度

配套中科迪宏自主研发的AI数字工厂,将检测和分选结果集成,采用生产预测引擎计算出硅片良率走势,支撑生产管理决策

  • 倒角崩

  • 左右崩

  • 前后崩

  • 上下脏污

  • 隐裂

工作流程

  • 尺寸/碎裂检测
  • 倒角崩边检测
  • 左右崩边检测
  • 前后崩边检测
  • PN型/电阻率测试
  • 分选下料
  • 隐裂检测
  • 上脏污检测
  • 下脏污检测
  • 厚度/线痕/粗糙度检测
  • 分选下料
  • 尺寸/碎裂检测
  • 隐裂检测
  • 倒角崩边检测
  • 上脏污检测
  • 左右崩边检测
  • 下脏污检测
  • 前后崩边检测
  • 厚度/线痕/粗糙度检测
  • PN型/电阻率测试